Plasma- and ion beam sources

Breitstrahlionenquellen sind ein wichtiges industrielles Werkzeug zur Oberflächenbehandlung. Damit lassen sich beispielsweise Oberflächen abtragen, Materialien zerstäuben, um sie auf einer anderen Oberfläche abzuscheiden, Oberflächen strukturieren und Ionen implantieren. Aus einem Plasma werden dazu mit Hilfe eines Gittersystems Ionen extrahiert und elektrostatisch auf Energien von meist einigen 100 eV bis einigen keV beschleunigt. Der Strahldurchmesser einer Breitstrahlquelle beträgt typischerweise einige cm bis zu mehreren 10 cm bei Stromdichten in der Größenordnung von 1 mA/cm². Neben diesen terrestrischen Anwendungen finden Ionenstrahlquellen auch eine Anwendung als Ionentriebwerke in der Raumfahrt.

Die physikalische und bei reaktiven Gasen auch chemische Wirkung des Ionenstrahls auf eine Oberfläche hängt entscheidend von den Strahlparametern ab.
Daher ist die Diagnostik des Strahlprofils und der Ionenenergieverteilungsfunktion sehr wichtig für die Anwendung und die Entwicklung von Breitstrahlionenquellen. Neben konventionellen Diagnostiken wie Faraday-Cups und Gegenfeldanalysatoren befasst sich unsere Arbeitsgruppe mit neuartigen Diagnostiken. Eine davon, die Nutzung von Mikropartikeln als Sonden, stellen wir hier vor.

  • Hauptkomponenten des experimentellen Aufbaus in VIBEX für die Messung der Kraft auf Mikropartikel, die von einem Strahl energetischer Ionen und Neutralteilchen ausgübt wird.. Die Beobachtungsplattform (a) ist 30 cm oberhalb der vertikal aufwärts gerichteten Breitstrahlionenquelle (b) montiert.
  • Gemessene Beschleunigung von Mikropartikeln bei verschiedenen Ionenenergien. Die kleinen Symbole repräsentieren die individuellen Trajektorien, die großen Symbole die Mittelwerte. Die Partikel werden aus zwei verschiedenen Höhen über der oberen Bildkante injiziert.
  • Partikeltrajektorien bei verschiedenen Strahlenergien (a) 160 eV, (b) 360 eV und (c) 400 eV. Die Rechtecke zeigen die Bereiche der aufeinanderfolgenden Frames.

Publikationen

T. Trottenberg, V. Schneider, H. Kersten Measurement of the Force on Microparticles in an Energetic Ion Beam. IEEE Transactions on Plasma Science. 38, 774-780 (2010).
T. Trottenberg, V. Schneider, H. Kersten Measurement of the force on microparticles in a beam of energetic ions and neutral atoms. Physics of Plasmas. 17, 103702 (2010).
V. Schneider, T. Trottenberg, I. Teliban, H. Kersten An experiment for the investigation of forces on microparticles in ion beams. Review of Scientific Instruments. 81, 013503 (2010).
F. Haase, D. Lundin, S. Bornholdt, H. Kersten On the Impact of Electron Temperature in Magnetron Sputtering Benchmarked with Energy Flux Measurements. Contributions to Plasma Physics. 55, 701-713 (2015).
A. Spethmann, T. Trottenberg, H. Kersten Measurement and simulation of the momentum transferred to asurface by deposition of sputtered atoms. The European Physical Journal D. 70 (2016).
T. Kewitz, M. Fröhlich, H. Kersten Analysis of passive calorimetric probe measurements at high energy influxes. EPJ Techniques and Instrumentation. 4 (2017).
T. Trottenberg, H. Kersten Measurement of forces exerted by low-temperature plasmas on a plane surface. Plasma Sources Science and Technology. 26, 055011 (2017).
S. Gauter, M. Fröhlich, W. Garkas, M. Polak, H. Kersten Calorimetric probe measurements for a high voltage pulsed substrate (PBII) in a HiPIMS process. Plasma Sources Science and Technology. 26, 065013 (2017).
T. Brandt, R. Schneider, J. Duras, D. Kahnfeld, FG. Hey, H. Kersten, et al. Particle-in-Cell Simulation of a Down-Scaled HEMP Thruster. Trans. JSASS Aerospace Tech. Japan. 14, 235-242 (2016).
A. Spethmann, T. Trottenberg, H. Kersten Measurement and simulation of forces generated when a surface is sputtered. Physics of Plasmas. 24, 093501 (2017).

Experimente